DT304-X208 矽半導體電阻率及型号測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和 軸向電阻率，适用于半導體及太陽能行業的篩選。

産品特點

1 儀器采用 220V 交流電源供電。

2 同時檢測矽半導體材料的電阻率和型号兩項指标。

3 擁有較高的電阻率測試分辨率，*小可到0.001 歐姆.厘米。 4 能*的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的矽半導體材料型号。

5 獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規模快速選料。

6 适中的體積和便攜性。

7 簡單的操作，快速的測試。

8 低廉的價格，很高的性價比。

參數指标

1 供電電源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主機尺寸 155×120×50mm

2 電阻率測試範圍 0.001~50 歐姆.厘米 3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB